基本信息
应用IDC6917591466854398046
包名chz.jjlzs.hm
版本2.2.0
开发者迟政
大小6.3 MB
价格免费
上架时间2025-12-19 22:36
更新时间2026-02-05 23:59
发布地区PS, AO, AF, IQ, BF, BI, BJ, BW, TD, CG …
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SDK / API Level 说明
- 最低SDK（minsdk）：12 — 应用运行所需的最低 HarmonyOS SDK 版本号
- 目标SDK（target_sdk）：22 — 应用编译时面向的目标 SDK 版本号
- API Level（min_hmos_api_level）：50000 — 应用要求的最低鸿蒙 API 级别（如 50000 = 5.0.0.0，50005 = 5.0.0.5，50101 = 5.0.1.1）
更新日志
修复已知问题，提升用户体验
应用介绍
FIB电路编辑助手是一款专为聚焦离子束（FIB）工程师打造的专业工具应用。无论您从事半导体失效分析、TEM样品制备还是纳米加工，这款应用都能成为您实验室中的得力助手。完全离线可用，数据本地存储，保护您的实验隐私。
核心功能
专业计算中心
提供6大核心计算工具，覆盖FIB工作中最常用的计算场景：
离子束电流密度计算
溅射速率计算
沉积速率计算
束流强度与加工时间
聚焦深度计算
加工精度计算
每个计算器都内置参数预设，支持结果一键复制，配合震动反馈让操作更有质感。快捷工具包含刻蚀时间计算器、沉积前驱体估算、束斑可视化，弹窗式交互随用随开。
材料数据库
收录FIB加工常用材料参数，包括硅、金、铂、钨、铜等金属与半导体材料。支持：
按类型筛选（金属/半导体/绝缘体）
收藏常用材料
两种材料参数对比
单个参数或全部参数一键复制
直接将材料参数用于计算
智能故障诊断
针对FIB操作中的常见问题提供系统性解决方案：
图像漂移、聚焦不清、亮度过低
样品荷电、窗帘效应等
创新的快速诊断向导，通过简单问答快速定位问题根源。解决方案支持步骤勾选，追踪排查进度，确保问题彻底解决。同时提供FIB原理知识卡片，帮助理解设备工作机制。
实验记录管理
专业的实验日志系统，记录每次FIB操作的关键参数：
快速模板：TEM制样、电路修改、Pt沉积、快速刻蚀
标签分类：按实验类型归档管理
搜索筛选：快速找到历史记录
数据统计：今日新增、本周记录一目了然
导出分享：一键导出记录到剪贴板
实用工具箱
集成多种实用小工具：
单位换算器：长度（英寸↔毫米）、压力（mbar↔Pa）、电流（nA↔pA）
真空度换算：mbar/Pa/Torr/atm四种单位互转
耗材计时器：追踪离子源使用时间，数据持久保存
厂商指令速查：FEI、Zeiss、Tescan三大厂商快捷键，支持搜索和收藏
产品特色
专业性 由FIB领域工程师参与设计，计算公式准确可靠，功能贴合实际工作需求。
易用性 简洁直观的界面设计，流畅的交互动画，触觉反馈让每次操作都有回应。
隐私性 所有数据本地存储，完全离线可用，无需担心实验数据泄露。
高效性 参数预设、快速模板、一键复制，大幅提升工作效率。
适用人群
半导体失效分析工程师
TEM样品制备技术员
纳米加工研究人员
FIB设备操作员
材料科学研究生
技术支持
如有问题或建议，欢迎通过应用内反馈功能联系我们。我们将持续优化产品，为FIB工程师提供更好的工具支持。
立即下载，让FIB工作更高效！
核心功能
专业计算中心
提供6大核心计算工具，覆盖FIB工作中最常用的计算场景：
离子束电流密度计算
溅射速率计算
沉积速率计算
束流强度与加工时间
聚焦深度计算
加工精度计算
每个计算器都内置参数预设，支持结果一键复制，配合震动反馈让操作更有质感。快捷工具包含刻蚀时间计算器、沉积前驱体估算、束斑可视化，弹窗式交互随用随开。
材料数据库
收录FIB加工常用材料参数，包括硅、金、铂、钨、铜等金属与半导体材料。支持：
按类型筛选（金属/半导体/绝缘体）
收藏常用材料
两种材料参数对比
单个参数或全部参数一键复制
直接将材料参数用于计算
智能故障诊断
针对FIB操作中的常见问题提供系统性解决方案：
图像漂移、聚焦不清、亮度过低
样品荷电、窗帘效应等
创新的快速诊断向导，通过简单问答快速定位问题根源。解决方案支持步骤勾选，追踪排查进度，确保问题彻底解决。同时提供FIB原理知识卡片，帮助理解设备工作机制。
实验记录管理
专业的实验日志系统，记录每次FIB操作的关键参数：
快速模板：TEM制样、电路修改、Pt沉积、快速刻蚀
标签分类：按实验类型归档管理
搜索筛选：快速找到历史记录
数据统计：今日新增、本周记录一目了然
导出分享：一键导出记录到剪贴板
实用工具箱
集成多种实用小工具：
单位换算器：长度（英寸↔毫米）、压力（mbar↔Pa）、电流（nA↔pA）
真空度换算：mbar/Pa/Torr/atm四种单位互转
耗材计时器：追踪离子源使用时间，数据持久保存
厂商指令速查：FEI、Zeiss、Tescan三大厂商快捷键，支持搜索和收藏
产品特色
专业性 由FIB领域工程师参与设计，计算公式准确可靠，功能贴合实际工作需求。
易用性 简洁直观的界面设计，流畅的交互动画，触觉反馈让每次操作都有回应。
隐私性 所有数据本地存储，完全离线可用，无需担心实验数据泄露。
高效性 参数预设、快速模板、一键复制，大幅提升工作效率。
适用人群
半导体失效分析工程师
TEM样品制备技术员
纳米加工研究人员
FIB设备操作员
材料科学研究生
技术支持
如有问题或建议，欢迎通过应用内反馈功能联系我们。我们将持续优化产品，为FIB工程师提供更好的工具支持。
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